檢索結果:共3筆資料 檢索策略: "none".ecommittee (精準) and ckeyword.raw="統計製程管制"
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本論文主要探討對品質管制(Quality Control)的發展,同時對統計製程管制(Statistical Process Control)與製程能力(Process Capability)做概要…
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在半導體製造的生產流程上,即時的品質量測和檢測在管制及改善良率上扮演著日趨重要的角色,特別是在先進的12吋晶圓廠上。因此在製程上,晶片層級的量測方法和缺陷檢測是急待突破的兩塊領域。本文針對量測問題提…
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電腦整合製造系統導入之個案研究 本篇論文主要在探討CIMS電腦整合製造系在個案公司導入的實際案例及其對個案公司的實際效益,一般而言CIMS系統是廣泛運用到半導體和TFT-LCD等高科技與…